AG防眩層膜厚儀: 按照客戶需求搭建的防眩薄膜厚度特性表征工具。 AG防眩層膜厚儀 是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設備，可用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的防眩膜層。 AG防眩層膜厚儀 是為客戶量身定制的，并廣泛應用于各種不同的應用。 比如： 吸收率/透射率/反射率測量，薄膜特性在溫度和環境控制下甚至在液體環境下的表征等等…

全自動影像坐標測量機是有代表性的坐標測量儀器。坐標測量機中，以測量儀器的平臺為參考平面建立機械坐標系，采集被測工件表面上的被測點的坐標值，并投射到空間坐標系中，構建工件的空間模型。